公益社団法人 日本顕微鏡学会
走査電子顕微鏡分科会

更新日 2020.5.19



<更新情報>

SCAN TECH 2020開催中止のお知らせを掲載しました。
詳細は こちら をご覧ください(2020.5.18)



走査電子顕微鏡分科会は、日本顕微鏡学会(2002年7月 日本電子顕微鏡学会から名称変更)の分科会の一つです。
この分科会では走査電子顕微鏡(SEM)を医・生物学、材料科学などの各種分野にどのように応用していくかに興味を持つ人達が集まり、例年2回の企画を実施しております。一つは、学術講演会期間中に開催するミニシンポジウムで、主に学会員にディスカッションの場を提供するものです。 もう一つは学会員および非会員も対象にしたSCAN TECHです。ここでは、最先端の情報を提供すると共に、従来の技術をどのように利用するかを議論しています。
SCAN TECH(92〜現在)のプログラム
SEM関連書籍
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