2023.4.6 更新

公益社団法人 日本顕微鏡学会
走査電子顕微鏡分科会

本年は「どうする！この試料　〜世代が繋ぐ SEM 技法の基礎と発展〜」をテーマとしてSCAN TECH 2023 を開催することになりました。 本会では各分野の最前線でご活躍の方々に講演をお願いしております。 講演の内容とスケジュールにつきましては につきましては、プログラムをご覧ください。
さらに、１日目最後の企業展示ならびに意見交換会では、講師や企業の方、スタッフあるいは参加者同士が自由にご討議できる時間を確保してあります。

記

1. 主催：公益社団法人　日本顕微鏡学会　走査電子顕微鏡分科会


2. 日時^※：

１日目：	2023 年 8 月 31 日（木） 13:30〜19:00
２日目：	2023 年 9 月 1 日（金） 10:00〜16:30

※：コロナウイルス感染症の状況によって開催方法・開催場所を変更する可能性があります。




3. 開催形式：　現地来場


4. 会場：
一般財団法人　ファインセラミックスセンター
〒456-8587 愛知県名古屋市熱田区六野２丁目４−１

交通アクセス
　・JR 東海道本線 熱田駅下車：徒歩 7 分
　・名鉄本線 神宮前駅下車：徒歩 10 分
　・地下鉄名城線 熱田神宮西駅下車：徒歩 10 分


5. 参加費（予稿集含む）：予稿集はPDFファイルをダウンロード

日本顕微鏡学会会員※	（一般） 10,000 円 （学生）無料
非会員	（一般） 12,000 円 （学生） 2,000 円



※日本顕微鏡学会の正会員に限ります。
　日本顕微鏡学会の法人会員および、関連学会の会員は非会員となりますのでご注意ください。


6. 登録登録：本ページにてご案内いたします（6 月中旬より受付開始予定）［登録締切：2023 年 8 月 4 日（金）］

発表者の皆様へ（輸出管理における注意事項）
　SCANTECHには海外から参加される方もいらっしゃいますので、発表内容に関する輸出管理は、所属団体の方針に沿って対応をお願いいたします。