2022.7.22 更新

SCAN TECH 2022のご案内

公益社団法人 日本顕微鏡学会
走査電子顕微鏡分科会


本年は「SEMの基礎 手取り足取り」 〜前処理・観察・分析まで〜をテーマとしてSCAN TECH 2022を開催することになりました。本会では各分野の最前線でご活躍の方々に講演をお願いいたしました。

講演の内容とスケジュールにつきましては につきましては、プログラムをご覧ください。また、セッションの合間のブレイクアウトルームでは、企業展示に加え講師や参加者同士が自由に討議できる場を設けておりますので奮ってご参加ください。

  1. 主催:公益社団法人 日本顕微鏡学会 走査電子顕微鏡分科会

  2. 日時:2022年8月26日(金)10:00〜17:00

  3. 会場:
  4. 理化学研究所 横浜キャンパス
    〒230-0045 神奈川県横浜市鶴見区末広町1丁目7番22号

    現地来場とZOOMを用いたオンライン参加によるハイブリッド開催となります。
    オンライン講演会場の接続先URLにつきましては、参加登録いただいた方にお知らせいたします。

  5. 参加方法:
  6. 現地来場 50名/   55名(8/22現在)
    オンライン 150名程度/   98名

    ※現地来場は先着50名までとさせて頂きます。
     現地来場での参加を希望される方は、3回のワクチン接種もしくはPCR検査による陰性確認、体温チェックで異常がないことを確認してください。


  7. 参加費(予稿集込):予稿集はPDFファイルをダウンロード
  8. 会員・学生  無料
    非会員 1,000円

    ※日本顕微鏡学会の正会員に限ります。日本顕微鏡学会の法人会員および、関連学会の会員は非会員となりますのでご注意ください。

  9. 支払方法:
  10. クレジットカードによるオンライン決済のみとさせていただきます。支払先URLは受付後ご案内いたします。
    領収書の必要な方は決済後、日本顕微鏡学会までご連絡ください。
    なお、現金・銀行振込でのお支払いには対応いたしかねますのでご注意ください。

  11. 発表者の皆様へ(輸出管理における注意事項)
  12. SCANTECHには海外から参加される方もいらっしゃいますので、発表内容に関する輸出管理は、所属団体の方針に沿って対応をお願いいたします。


登録受付:[受付締切:8/21(日)]終了しました。


※:コロナウイルス感染症の状況によって開催方法・開催場所を変更する可能性があります。