| 演題 | 講演者 | 所属 |
| １．帯電のメカニズムと像への影響 | 小野昭成 | 日本電子データム |
| ２．様々な試料におけるチャージアップとその防止法 | ||
| 生物試料取り扱いの例から | 近藤俊三 | 三菱化学生命研 |
| 低融点油脂観察時のダメージとその軽減法 | 木村利昭 | 雪印乳業・技研 |
| 微生物試料におけるチャージアップとその防止法 | 西山彌生 | 帝京大・医真菌研 |
| 半導体、電子部品材料 | 稲里幸子 | 松下テクノリサーチ |
| 材料 | 吉田 明 | 武蔵工大 |
| Cryo-SEMによる植物病原菌の生体内元素分析の試み | 岩崎秀子 | 明治乳業・ヘルスサイエンス研 |
| ３．試料作製によるチャージアップの防止とその落とし穴 | ||
| 導電染色法とその落とし穴 | 高橋一郎 | 帝京大・医 |
| 試料のマウント法とコーティング法 | 久芳聡子 | トプコン |
| ４．観察条件によるチャージアップの防止法 | 山田満彦 | 日立計測エンジニアリング |
| 佐藤 貢 | 日立・計測器 | |
| ５．観察条件の選択によるチャージアップ防止法の落とし穴 | 小倉一道 | 日本電子 |
| 演題 | 講演者 | 所属 |
| １．チャージアップを克服する最新技法（１） | ||
| 低真空SEM法 | 久芳聡子 | トプコン |
| 低加速電圧SEM法によるチャージアップの克服 | 山田満彦 | 日立計測エンジニアリング |
| 佐藤 貢 | 日立・計測器 | |
| ２．チャージアップを克服する最新技法（２） | ||
| 試料加熱によるチャージアップ防止の可能性 | 小倉 一道 | 日本電子 |
| 試料コーティングについて | 中川美音、山田満彦 | 日立計測エンジニアリング |
| 佐藤 貢 | 日立・計測器 | |
| プラズマ製膜法と作製装置 | 田中 昭 | 日本レーザ電子 |
| 界面活性剤 | 加藤 勝 | 日製産業 |
| SEM像における帯電現象の悪影響を緩和するための画像処理技術 | 於保英作 | 工学院大 |