SCANTECH 2010 プログラム


『今から使える実践SEM技法〜マクロからミクロ、そしてナノ領域へ〜』

東京都市大学 世田谷キャンパス

2010年9月10日(金)10:00〜18:30

      
特別講演(仮題) 講演者 所属
  1.材料系(ナノ粒子観察と物性評価) 真島 豊 東京工業大学
  2.医生物系(マクロからナノ領域の試料観察のいろいろ) 牛木 辰男 新潟大学
一般講演(仮題)
  3.SEMだからできること・いろいろな試料情報 多持 隆一郎  日立ハイテクノロジーズ 
  4.SEMでは苦手なこと・だからこんな工夫が必要  長澤 忠広 日本電子 
  5.SEM/EDSによるマクロ分析の注意点 谷山 明  住友金属工業 
休憩
  6.(金属疲労破面観察)極低倍と高倍率の両立 土屋 新   三菱マテリアル
  7.ソフトマテリアルや複合材料の前処理と観察法  網田 仁 昭和電工 
  8.卓上型SEMによる新展開 メーカー
  9.総合討論
  10.閉会の辞 稲里 幸子 パナソニック
  11.ミキサー