SCAN TECH 2009プログラム


『SEMでここまでできる-目的に応じた工夫と落とし穴』

日本女子大学 80年館851教室(東京都文京区)

2009年9月4日(金)10:00〜19:00

      
演題 講演者 所属
  1.バイオ研究におけるSEMの活用 甲賀大輔 新潟大学大学院
  2.試料表面がここまで変わる〜イオンミリング法〜 稲木由紀 日立ハイテクマニュファクチュア&サービス
  3.斜め研磨法 〜切削で変わる分析結果〜 伊藤喜子  ライカマイクロシステムズ 
  4.SEMで傷・凹凸を観る、使う  青島利裕 TOTO 
  5.SEMで出来ること、出来ないこと
    〜ナノ材料・ソフトマテリアルの評価法検討〜
上野理恵  キヤノン 
  6.SEMならここまでできる 乙部博英   旭化成
  7.元素分析においてビームダメージとうまく付き合う方法  森 憲久 日本電子 
  8.広領域分析 森田博文 オックスフォード・インストルメンツ
  9.低加速電圧FE-SEMによるメソポーラス材料の構造評価 遠藤 明 産業総合研究所
  10.ポスターセッション&フリートーキング