SCAN TECH 2020中止のお知らせ

公益社団法人 日本顕微鏡学会
走査電子顕微鏡分科会


 SCAN TECH2020は2020年9月4日に「SEM の常識 2020 真の姿を撮えよう」 〜機能性材料から生物組織まで〜 をテーマとして東京都市大学にて開催を予定していました。
 しかし、走査電子顕微鏡分科会は新型コロナウィルス感染拡大防止と講師・参加関係者の安全と健康を最優先し、SCAN TECH2020を中止することにいたしました。
 ご講演、ご参加を予定頂いた皆様には大変なご迷惑をおかけする事になり、誠に申し訳ございませんが、ご理解を賜りますようお願い申し上げます。
 走査電子顕微鏡分科会は、厚生労働省の定めた「新しい生活様式」に基づき、より良いシンポジウム開催の方法と情報発信方法を検討し、今後のSCAN TECHを実現したいと考えております。
 詳細は本ホームページに掲載して参りますので、今後ともよろしくお願い申し上げます。
 


[ 戻る ]